隨著(zhù)時(shí)間的推移,鐵電材料承受反復加載機電,導致其功能逐漸降低,最終導致失敗。 這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“鐵電疲勞”。

 這是一個(gè)失敗的主要原因一系列電子設備,電子垃圾廢棄電子產(chǎn)品的主要貢獻者。 全球數千萬(wàn)噸的失敗電子設備每年去垃圾填埋場(chǎng)。使用先進(jìn)的原位電鏡,航空航天學(xué)院的機械和機械電子工程人員能夠觀(guān)察鐵電疲勞發(fā)生。 這種技術(shù)使用了先進(jìn)的顯微鏡來(lái)“看”,在實(shí)時(shí),納米和原子水平。

 研究人員希望這種新的觀(guān)察,發(fā)表的一篇論文中描述自然通訊,將有助于更好地通知鐵電nanodevices未來(lái)的設計。“我們的發(fā)現是一個(gè)重大的科學(xué)突破,因為它顯示了一個(gè)明確的證據表明鐵電降解過(guò)程是在納米尺度上,”合著(zhù)者廖小周教授說(shuō),同樣來(lái)自悉尼大學(xué)的納米研究所。

 Qianwei黃博士,這項研究的首席研究員,說(shuō):“雖然早就知道,鐵電疲勞可以縮短電子設備的壽命,它如何發(fā)生之前沒(méi)有很好理解,由于缺乏合適的技術(shù)來(lái)觀(guān)察它?！焙现?zhù)者Zibin Chen博士說(shuō):“這個(gè),我們希望更好的通知工程的設備和更長(cháng)的壽命?！?/span>

 諾貝爾獎得主獲得一次著(zhù)名的斷言“界面設備。” 悉尼的觀(guān)測研究人員可能因此引發(fā)一場(chǎng)新的爭論是否接口——這是物理邊界不同地區分離的材料做的,是一個(gè)可行的解決方案不可靠的新一代設備。“我們的發(fā)現表明,接口可以加快鐵電退化。 因此,更好的理解這些過(guò)程是實(shí)現最佳性能所需的設備,”陳博士說(shuō)。