隨著時間的推移,鐵電材料承受反復加載機電,導致其功能逐漸降低,最終導致失敗。 這個過程被稱為“鐵電疲勞”。

 這是一個失敗的主要原因一系列電子設備,電子垃圾廢棄電子產品的主要貢獻者。 全球數千萬噸的失敗電子設備每年去垃圾填埋場。使用先進的原位電鏡,航空航天學院的機械和機械電子工程人員能夠觀察鐵電疲勞發生。 這種技術使用了先進的顯微鏡來“看”,在實時,納米和原子水平。

 研究人員希望這種新的觀察,發表的一篇論文中描述自然通訊,將有助于更好地通知鐵電nanodevices未來的設計。“我們的發現是一個重大的科學突破,因為它顯示了一個明確的證據表明鐵電降解過程是在納米尺度上,”合著者廖小周教授說,同樣來自悉尼大學的納米研究所。

 Qianwei黃博士,這項研究的首席研究員,說:“雖然早就知道,鐵電疲勞可以縮短電子設備的壽命,它如何發生之前沒有很好理解,由于缺乏合適的技術來觀察它?！焙现遉ibin Chen博士說:“這個,我們希望更好的通知工程的設備和更長的壽命?！?/span>

 諾貝爾獎得主獲得一次著名的斷言“界面設備。” 悉尼的觀測研究人員可能因此引發一場新的爭論是否接口——這是物理邊界不同地區分離的材料做的,是一個可行的解決方案不可靠的新一代設備。“我們的發現表明,接口可以加快鐵電退化。 因此,更好的理解這些過程是實現最佳性能所需的設備,”陳博士說。